Incidencia en los ODS ONU
Intereses de investigación
• Caracterización morfológica de estructuras orgánicas e inorgánicas desde nivel micrométrico hasta atómico
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Espectroscopías de elementos desde Li a nivel nanométrico
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Asociación de análisis elemental en áreas incluso nanométricas
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Determinación de tipos de enlaces y asociadas en zonas desde micrométrico hasta atómico
Semblanza
La Profesora Patricia Castillo Ocampo, desde 1996 es Responsable del Laboratorio Central de Microscopía Electrónica en la Universidad Autónoma Metropolitana. En 1996, el laboratorio ya tenía instalado 2 Microscopios marca Zeiss de emisión termoiónica, uno de barrido con WDS y uno de Transmisión de 120kV. Con esos equipos fue posible el apoyo a las investigaciones de los departamentos de Física, Química, Ingeniería y Biología. Se han realizado servicios externos tanto para otras Universidades así como a la Industria.
En 2011, la Institución determino la adquisición de un microscopio electrónico de barrido JEM 7600F y uno de transmisión de alta resolución JEM 2100F ambos de emisión de campo marca JEOL, con un presupuesto de 2.5 millones de dólares.
En éste proyecto tuve una participación activa directa tanto para selección del equipo así como el acondicionamiento de la infraestructura necesaria donde se alojarían los microscopios y la instalación propia de los 2 microscopios. Para posteriormente lograr la puesta a punto de ambos equipos. Hoy en día el laboratorio ofrece a la comunidad el uso de las siguientes técnicas:
Caracterización en Transmission Electron Microscope (HRTEM) utilizando los siguientes modos de imagen: BF, DF, Diff, nano diff; STEM BF y DF, con HAADF, contraste Z y dispersion térmica difusa; Experimentos de calentamiento in situ; Experimentos a condiciones de Nitrógeno líquido, básicamente llega a ser necesario para elementos lábiles en vacío y para análisis de EELS
En espectroscopías: EDS puntual y mapeo; EFTEM, EFTEM-SI; EELS general, puntual y mapeo.
Caracterización en Scanning Electron Microscope (SEM), con: Imágenes con electrones secundarios; Imágenes con electrones retrodispersos; EDS general, línea y mapeo
En el laboratorio es posible la preparación de muestras tales como Polímeros, Catalizadores, Metales, Cerámicos e incluso material biológico. En preparación de muestras cuento con experiencia en ultracrío- microtomía, realizando cortes con espesores de 80nm desde temperatura ambiente hasta incluso -120°C. Además se han implementado todas las técnicas y los consumibles y accesorios para fijación, tinción, deshidratación, deshidratación y desecación de punto crítico para el caso de muestras biológicas.
Co autor en más de 50 publicaciones nacionales e internacionales. Agradecimientos en más de 100 artículos y conferencias nacionales e internacionales. Asistencia en más de 60 cursos relacionados con Microscopía Electrónica.
1991. Licenciatura en Ingeniería Mecánica UNAM Universidad Nacional Autónoma de México. Tesis Caracterización de Materiales con Microscopía Electrónica de Transmisión en el sistema Al-Mn
1992-1993 Beca del Gobierno Flamenco para estancia en Microscopía Electrónica en la Universidad de Gante- SIDMAR, Bélgica.
1989-1999 Profesor de Ciencia de Materiales, tiempo completo en la Facultad de Ingeniería UNAM
1995-1997 Profesor de asignatura Tecnología de Materiales, Ingeniería Mecánica Universidad Iberoamericana (UIA)
2003-2005 Instituto de Investigaciones en Materiales UNAM. 100% de créditos en la Maestría en Ciencia de Materiales
Información proporcionada por el personal académico
